# IEC TS 62915：モジュール変更で強いられる再試験とは

> 認証済みモジュールへの変更は証明書を無効にはしないが、無償でもない。IEC TS 62915が変更タイプを再実施する試験にどう対応付けるかを解説する。

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- ** 2026-10-17
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## IEC TS 62915：モジュール変更で強いられる再試験とは

**簡単な回答：** モジュールがIEC 61215およびIEC 61730の証明書を取得した後、設計、材料、または部品への変更は自動的に証明書を有効なままにするわけではない — しかし、完全な再認定を強制するわけでもない。 **IEC TS 62915** は両者を結びつける再試験ガイドラインであり、各変更タイプを、再実施が必要なIEC 61215の特定の **MQT** 項目およびIEC 61730の **MST** 項目に対応付ける。現行版は2023年9月発行のEd. 2.0で、2024年8月に編集上の正誤表がある。独自の新しい試験方法は追加していない。すべての試験、サンプル数、合格基準は依然として2つの基本規格に由来する。

シナリオはよくあるものだ。第二サプライヤーからの安価な封止フィルム、3.2 mmから2.0 mmに薄くしたガラス、より大型の次世代セル、新市場向けの1500 V版。いずれも軽微に見えるが、問題は生産ライン上のモジュールが依然として認証されたモジュールであるかどうかだ。

## そもそも再試験ガイドラインが存在する理由

完全な認定は高コストで時間がかかる。複数のモジュールを消費し、熱サイクル、湿熱、湿度フリーズ、UV、機械的荷重のシーケンスを数か月単位の期間にわたって実行する。PVは同時に高速で反復され、コスト圧力にさらされる産業であるため、部品表は決して静的ではない。そこから真のジレンマが生じる。

- **すべての変更で全項目を再試験** すれば、サイクルタイムとコストが持続不可能になり、新材料や技術の導入が妨げられる。
- **何も再試験しない** ならば、証明書は出荷されているものとはもはや異なる製品を記述することになり、認証が無意味になる。

共通のルールがなければ、同じ変更が異なる認証機関や異なるプロジェクトで異なる試験プログラムを招く可能性がある。IECは2018年に再試験ルールを技術仕様として定め、その適用範囲は目的を明快に述べている。すなわち、変更された、または変更されようとしているモジュールについて、型式承認、設計、安全認定を維持する統一的な方法を提供することである。

## それが何であり、何でないか

| 項目 | 詳細 |
| --- | --- |
| 文書番号 | IEC TS 62915 |
| タイトル | Photovoltaic (PV) modules — Type approval, design and safety qualification — Retesting |
| 文書タイプ | TS — 技術仕様であり、完全な国際規格ではない |
| 委員会 | IEC TC 82、太陽光発電エネルギーシステム |
| 現行版 | Ed. 2.0、2023年9月、2018年の初版を置き換え、正誤表COR1、2024年8月 |
| 適用対象 | ウェーハベース技術（WBT、結晶シリコンを含む）およびモノリシック集積薄膜モジュール（MLI） |

この文書を読む鍵はその位置づけにある。新しい試験方法は一切作成しない。すべての試験項目、サンプル数量、合格基準はIEC 61215およびIEC 61730に由来する。62915が行うのは、 *変更タイプ* と *再実施すべき試験*. その効果は明快に述べられている。指定されたシーケンスに合格した製品は、元の完全認定の基礎となった規格に適合するとみなされる — 言い換えれば、既存の認証が引き継がれる。

TS形式も重要である。IECシステムではISは正式な国際規格であり、TSは実務がまだ発展途上にある間に発行される技術仕様であり、本仕様は支援を提供するものであり、箇所によっては技術的判断が必要となる場合があると明言している。これはガイドラインであり、あらゆる状況を網羅するチェックリストではない。

## 規格の構成：変更マップ

2023年版の中核は第4条「 *再試験*」である。4.1項にはすべての再試験に適用される一般規則が含まれる。4.2項はウェーハベースモジュールの試験プログラムを変更タイプ別に19の小項に分けて示す。4.3項は薄膜モジュールについて同様に22の小項で示し、透明前面電極、裏面電極、エッジ除去など薄膜特有の内容のみを扱い、4.2項がすでに述べたことを繰り返さない。附属書Aは規定であり、表A.1はすべての再試験要件を要約し、図A.1はIEC 61215とIEC 61730を組み合わせた試験フローを示し、A.3は新材料または部品の組み合わせを評価する方法を提供する。

各小項は同じパターンに従う。まずどの状況が変更とみなされるか、次にIEC 61215の下で再実施すべきMQT項目とIEC 61730の下でのMST項目である。2023年版は両者を別々に列挙しており、製造者が一方または両方の認定を保有するかにかかわらず文書がより明確になる。

再試験プログラムを読む際にコードは頻繁に登場する。MQT項目はIEC 61215-2に、MST項目はIEC 61730-2に属する。

| コード | 試験 | コード | 試験 |
| --- | --- | --- | --- |
| MQT 01 | 外観検査 | MQT 13 | ダンプヒート |
| MQT 03 | 絶縁試験 | MQT 15 | 湿潤漏れ電流 |
| MQT 06.1 | STCでの性能 | MQT 16 | 静的機械的荷重 |
| MQT 09 | ホットスポット耐久 | MQT 17 | ひょう |
| MQT 10 | UV前処理 | MQT 19 | 安定化 |
| MQT 11 | 熱サイクル | MQT 20 | 動的機械的荷重 |
| MQT 12 | 湿度フリーズ | MQT 21 | 電位誘起劣化 |

安全面では、繰り返し登場するコードとしてMST 01（外観検査）、MST 03（最大電力測定）、MST 16（絶縁）、MST 17（湿潤漏れ電流）、MST 32（モジュール破損）、MST 53（湿熱）が挙げられます。これらのいくつかの背後にある技術的詳細、たとえば湿熱曝露そのものについては、次に示します。 [一文でこの地図を要約すると：IECが共通の技術言語を書き、EN、UL、GB/Tがそれをローカライズし、強制国家規格が下限を引き、業界、団体、企業規格が詳細を追加して線を引き上げる。認証が検証し、規制と契約が何を強制するかを決定する。規格を引用されたら、それが三つのうちどれであるか、どの版であるか、誰が強制しているかを尋ねよ。これらの質問が、入札の数字の行から始まる議論のほとんどを解決する。](https://www.ooitech.com/dh1000-damp-heat-test-failure-modes-and-mechanisms.html).

## 表の使い方を決める6つの一般規則

特に注意して読む価値があるのは4.1項です。これは何を試験するかではなく、表をどのように適用するかを規定しているためです。

- **開示は製造業者の義務です。** 製造業者は、最後に提出された版と比較して、設計、材料、部品、材料の組み合わせ、製造業者またはプロセスに変更がある場合、それを申告しなければならず、そのデータを再試験範囲の縮小に用いる場合は部品レベルのデータを提供しなければなりません。
- **「異なる材料」とみなされるもの。** その定義は、化学組成、種類の呼称または仕様が異なる材料であり、仕様には公称値および許容差を含む電気的、光学的、機械的特性が含まれます。注記では、異なる供給元または生産拠点からの同一材料は、明確に実証できる限り、必ずしも異なる材料ではないと付け加えられています。
- **基準は最初に提出された値であり、許容差に対して判断されます。** 新しい厚さや寸法を評価する際の基準は、当初試験された値です。申告された許容差を超える新しい値は、変更として扱われる場合があります。また、製造業者が申告する許容差自体が、再試験を引き起こす変更率よりも広い場合（規格自身の例では前面ガラス厚さの10%減少）、その部品は最も不利な限界で提出しなければなりません。
- **まず安定化し、その後に前後を比較します。** 再試験のために提出されるすべてのモジュールは電気的に安定化され（MQT 19）、該当する規格の初期測定および最終測定が試験の前後に行われます。61215プログラムではMQT 01、03、06.1、15、19、61730プログラムではMST 01、03、16、17です。
- **順序は変更できません。** 一連の項目のうち一部のみを繰り返す場合でも、元の規格が規定する順序で実施します。項目は省略できますが、順序を変更することはできません。
- **重複する変更はA.3を経由します。** 封止材とバックシートを同時に変更する場合、その組み合わせはA.3のマトリクスに対して評価しなければならず、その例は図A.2に示されています。

さらに2つの点がこのリストの上に加わります。光路または電気回路に影響する変更には、STC電力測定（MQT 06.1）を含めなければなりません。また、61215関連の再試験では、安定化電力、開放電圧および短絡電流が銘板の公称値に対して評価され（ゲート1）、試験前後の相対電力変化がIEC 61215-1の基準に対して評価されます（ゲート2）。

## 知っておくべき閾値

いくつかの条項と訂正の明確化から、トリガー条件がどのように機能するかを感じ取ることができます。

- **ガラス前面シートから非ガラス前面シートへの変更** （またはその逆）は再試験ではなく、前面シートの種類が根本的に変わるため、完全な適格性確認が必要です。事実上、新製品となります。
- **前面ガラスの薄型化** は一般規則における規格自身の例です。10%の減少で再試験がトリガーされ、モジュールガラスが薄くなってきたため最も頻繁に遭遇する条項です。
- **セルサイズの変更** は2024年の訂正の議論を通じて明確化されました。セルの長さ、幅または面積の10%を超える変更は再試験が必要ですが、10%未満の変更は、セル間隔およびセルとバスバーの間隔が同じか増加する限り、再試験は不要です。
- **システム電圧の増加** は4.2.14項で扱われ、その表題に閾値が示されています。すなわち5%を超える増加です。1000 Vから1500 Vへの変更はこれに該当します。
- **同一設計・同一サイズで異なる電力ビン** は4.2.12項で別途扱われ、電力範囲を拡張する際の一般的なケースです。
- **モノフェイシャルからバイフェイシャルへの変更** は2023年版で独自の条項4.2.17が設けられました。

これらはチェックリストではなく例示です。各変更タイプにはさらに多くのケースと例外が含まれます。再試験プログラムは、規格本文、表A.1および認証機関の評価に基づいて構築すべきです。

## 第2版で変わったこと

Ed. 2.0は編集上の整理ではなく技術的改訂であり、その変更のうち3つが日常業務に最も影響します。

- **新しい基礎規格との整合。** 参照はIEC 61215:2021およびIEC 61730:2023に移行し、これらの版で導入された2つの試験、すなわち動的機械荷重（MQT 20）とPID（MQT 21）が再試験要件に取り入れられました。
- **プロセス変更の扱いが変わりました。** 第1版の特定のプロセス変更に関する条項は削除され、IEC 62941に沿った一貫した品質マネジメントシステムを維持するという一般要件に置き換えられました。これによりプロセス変更管理は品質システムに委ねられています。
- **材料変更は部品レベルの規格に結び付けられました。** 封止フィルム、前面シートおよびバックシートの変更とみなされるものを定義するため、IEC 62788-1および62788-2シリーズが導入されました。

残りの5つの点は、61215と61730の要件の別個の記載、新しい統合マトリクス、結晶シリコンおよび薄膜からWBTおよびMLIへの用語の更新と4.3項からの重複の削除、IEC TS 63126に沿った高温動作に関する再試験ガイダンスの追加、およびプロセス変更の条項ごとの記載の削除です。2024年8月に発行されたCOR1は主に編集上のものであり、表と本文の間の不整合や誤読されうる表現を修正しています。この文書の安定期間は2026年まで続き、その時点で確認、撤回または改訂されます。作業部会から提起された技術的な問題は次版に委ねられました。

## 実務における意味

- **再試験評価を設計レビューに組み込む。** 新材料やコスト削減案が提起された時点で、表A.1に照らして再試験項目とリードタイムを見積もる。サンプルを製作した後に認証の検討を始めるのでは、通常は手遅れになる。
- **変更を1回の申請にまとめる。** 複数の変更が保留になっている場合、それらを1回の再試験ラウンドにまとめ、A.3の組み合わせルールを用いて重複するシーケンスを避ける方が、項目ごとに申請するよりも速く安価である。
- **初回認証時に公差と境界を計画する。** 評価は最初に提出された値に基づくため、その時点で選択した厚さ、寸法、公差が、後の変更に許される余地を定義する。
- **材料の同一性を管理する。** 「異なる材料」の判断は、組成、型式呼称、仕様に基づく。サプライヤーが型式呼称を変えずに配合をこっそり変更することが最も検出しにくい変更であり、その管理は受入検査とサプライヤー変更通知契約に依存する。
- **再試験の合格は現場での保証ではない。** IEC 61215と61730は、寿命を予測するのではなく明らかな設計上の欠陥を探すための適格性試験であり、再試験ガイドラインが引き継ぐのはそのレベルの保証にすぎない。重大な変更については、拡張試験や現場データが依然として重要である。

設備側についての実際的な帰結は、再試験プログラムが工場がアクセスする必要のある測定項目を定義するということである。変更前後の電気的測定、ならびに絶縁試験および湿潤漏れ電流試験は自社内で実施する価値がある一方、長期の劣化シーケンスは通常、試験所に委ねられる。この区分を支える設備については、 [IEC認証試験機器の概要](https://www.ooitech.com/solar-panel-testing-equipment-for-iec-certification-complete-pv-module-test-solutions-by-ooitech.html)で説明されており、モジュール試験の全体については [PVモジュール信頼性試験](https://www.ooitech.com/pv-module-reliability-tests-list-cell-vs-module-failure-causes.html).

## よくある質問

### モジュールへの変更はその証明書を無効にするのか。

それは証明書を自動的に無効にするのではなく、疑問視させるものである。宣言された公差の範囲内で、材料や部品の置換に当たらない変更は、再試験がまったく不要な場合がある。それ以外の変更は、IEC TS 62915によって定義された再試験セットに対応付けられる。

### IEC TS 62915は新しい試験を導入するのか。

いいえ。すべての試験項目、サンプル数、合格基準はIEC 61215およびIEC 61730に由来する。このガイドラインは、特定の変更に対してそれらの項目のうちどれを繰り返す必要があるかを決めるだけである。

### サプライヤーの変更だけで再試験のきっかけになるのか。

それだけではならない。一般規則の注記には、異なるサプライヤーや生産拠点からの同一材料は、明確に実証できる限り、必ずしも異なる材料とはみなされないと記されている。組成、型式呼称、仕様が判断を決める。

### MQTとMSTとは何か。

これらは2つの基礎規格で用いられる試験項目コードである。MQT項目はIEC 61215-2にあり設計適格性を扱い、MST項目はIEC 61730-2にあり安全適格性を扱う。

### シーケンスの一部を省略できるのか。

はい — その変更に不要な項目は省略できるが、残りの項目は基礎規格で定義された順序で実施しなければならない。省略は許されるが、順序の変更は許されない。

### 複数の変更を同時に行った場合はどうなるのか。

その組み合わせは附属書A.3のマトリクスを用いて評価され、組み合わせた変更に必要な試験シーケンスが決定される。このように変更をまとめる方が、1つずつ申請するよりも通常は安価である。

## 最終的な考察

IEC TS 62915は単純な問いに答える。製品が変わったなら、証明書をどう維持するのか。その答えは、変更を特定し、それを調べ、必要なものを繰り返すことである — 変更を素通りさせるのでも、適格性試験全体を繰り返すのでもない。モジュールメーカーにとって、ガイドラインを適切に読むことで、コスト削減、技術の反復、コンプライアンスを順番にではなく同じプログラムの中で追求できるようになる。

規格の構成、条項番号、版の発行日は原資料およびIEC TS 62915:2023（Ed. 2.0）と正誤表COR1:2024に従う。再試験プログラムを構築する前に、最新の本文、表A.1、および適用要件を認証機関に確認すること。

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