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両面電気精緻化により産業用M10 TOPConが26.66%を達成

両面電気精緻化により産業用M10 TOPConが26.66%を達成

製品紹介

「TOPConで本当にあと0.5%絞り出せるのか?オージェ限界はもう目の前だぞ。」

この休憩室での一言は、ここ2年間n-TOPConラインを運営するすべての人の共通の不安を要約しています。M10フルサイズセル、量産効率は25.5%から26%の間で頭打ち、0.1%上げるごとに再結合、コンタクト、銀ペーストとの戦いです。そこへ晶科能源が寧波材料研究所と共同でNature Energyに論文を発表し、認証済みの産業用M10 TOPCon効率を一気に26.66%まで引き上げ、さらに両面率も88.3%まで引き上げました。一言で言えば、パッシベーションだけ、グリッドラインだけを追うのではなく、両方の電気的側面を同時に改善したのです。

Yang, Z. et al. Dual-side electrical refinement enables efficient industrial tunnel oxide passivating contact silicon solar cells. Nat. Energy 11, 699-709 (2026). doi:10.1038/s41560-026-01982-2

26.66%、この新たな一歩はどこから来たのか

この1年のTOPCon「効率ニュース」は正直見るのが少し疲れてきました。26.1%、26.35%、ほとんどがレーザー選択的改質か、わずかなホウ素エミッタ調整です。今回は晶科能源のラインが両面を同時に改善しました:

  • 前面:高シート抵抗ホウ素エミッタとグリッドラインパターン最適化により、再結合と輸送損失を低減。

  • 裏面:ダブル層poly-Si/SiOx構造で銀拡散をブロック、高結晶性内層、基板内の不活性リン低減、局所薄膜化。

  • 認証プラットフォーム:M10産業用フルサイズセル、ラボスケールのサンプルではありません。

その88.3%の両面率は、n-TOPConの世界では絶対効率よりもむしろ目を引きます。その理由は後で説明します。

前面:高シート抵抗ホウ素エミッタ、あえて挑戦

従来のi-TOPCon前面の矛盾:ホウ素拡散が重すぎるとオージェ再結合と濃度再結合が増大し、軽すぎるとエミッタ横方向抵抗が大きくなり、フィンガー下の電流を収集できず、LECOによる接触形成に頼らざるを得なくなる。

本論文の内容(図2シリーズ参照):

  • パッシベーション品質が確保され、青色応答が維持される条件下で、ホウ素エミッタのシート抵抗を積極的に高める。

  • バスバー/フィンガーパターンを再設計し、横方向輸送損失をグリッドライン工程で補償する。

  • メタライゼーション側では、ナノジュール加熱方式(同チームの先行研究であるZhou et al., Small 2025を参考文献に記載)を用いてAg-Si接触抵抗を低減する。

図2のIQE/PL比較から、高抵抗エミッタ群の前面再結合電流密度j0が明確に低下し、フィルファクターも崩れないことが示されており、グリッドラインと局所接触の最適化が輸送側を補修できたことを意味する。

現場エンジニアとしての直感:高抵抗ホウ素エミッタの最大の落とし穴は電気的性能ではなく、 焼成貫通ウィンドウとLECOプロセスとの互換性である。これは晶科能源(Jinko)の生産ライン出身のチーム(毛杰、王昭らは海寧晶科所属)によるもので、このホウ素拡散+グリッドラインの組み合わせはM10ラインで既にDOEを実施済みの可能性が高く、純粋なラボレシピではない。

裏面:ダブルPoly-Siが本命

裏面セクションは本論文全体で最もエンジニア向けの部分である(図3および図4)。

従来のn+ポリSi/SiOx構造が陥りやすい問題は周知の通り:

  • 銀ペースト焼成貫通時、Agが粒界に沿って基板方向へ浸透し、界面準位を誘起し、光劣化と暗時劣化が同時に増大する。

  • ポリ層が厚すぎると裏面寄生吸収が両面性を損ない、薄すぎるとパッシベーションと接触の安定性が保てない。

ここでの対策は裏面二層トンネル酸化膜ポリSi(図3のTEMで二層間の結晶性とドーピング分布の違いが明確)である:

両面電気精緻化により産業用M10 TOPConが26.66%を達成

  • 外層は「防御的」:銀拡散をブロックし、界面パッシベーションがメタライゼーションで破壊されるのを防ぐ。

  • 内層は「攻撃的」に傾く:基板側で高結晶性と不活性P濃度の抑制により、パッシベーション品質が向上する(図4のiVocとj0データがこれを裏付けている)。

  • 局所的に薄くなったポリ層(おそらくLCOまたはレーザー開口窓領域):裏面透過率が上がり、両面率は88.3%に達する。

図4の比較曲線において、単層ポリのベースラインに対する二重ポリ群:

  • Vocは維持される(高結晶性の内層と低不活性リンによる)。

  • FFは犠牲にならない(銀の拡散は外層で阻止され、接触抵抗率は急増しない)。

  • 両面率は従来のTOPConの約80%から88.3%に向上し、これは効率シート上の0.3%よりもBOSコストにとって重要である。

製品応用

「Nature論文だから高価に違いない」という反射的な考えは捨てよう。実際にn-TOPConラインを運営している人にとって、ここにはほぼそのままコピーできる3つのポイントがある:

  • ボロンエミッタの古い80-100 ohm/sqメニューに固執するのをやめよう。それを高く設定し、グリッドラインを再計算し、LECOウィンドウを再調整すれば、表面で0.2-0.3%絶対値の向上が本当に手に入る。

  • 裏面ポリを単層から二重に切り替えよう。外層は必ずしも高価ではなく、単にもう1つのCVD層だが、銀拡散という隠れた故障モードは両面モジュールの25年寿命において実際のコストになる。

  • 局所的なポリ薄膜化を両面率と交換しよう。ガラスと封止材だけを最適化するより良い取引だ。トラッカー付きで88%の両面率、そして発電所側のkWhコスト計算は自明だ。

もちろん落とし穴はある:二重層ポリの熱予算、レーザー局所薄膜化のスループットと均一性、そして既存のインライン設備に対する改造の規模だ。論文はこれらを明記しないが、晶科能源は認定効率を公表する勇気を持った。これは少なくともM10パイロットラインがすでに順調に稼働していることを示している。

未解決の疑問:現在のTOPCon熱予算(1300以上の高温ボロン拡散とLECO)の中で、その上に別のレーザー選択的改質層を積むべきか(Wang Qの26.35%論文のUV-psルートのように)?それとも、裏面二重ポリはすでにパッシベーション-コンタクト-両面性の三角形のトレードオフを限界まで使い切っており、次のステップはTOPConを絞り続けるのではなくBC構造に切り替えるべきなのか?

Ooitechの見解

ここで静かに興味深いのは、これらの2つのレバー、高シート抵抗のホウ素エミッタとリアダブルポリが、ほぼ完全にセル側に存在する一方で、その効果が88.3%の両面性を通じてモジュールレベルで現れることです。モジュールラインでは、両面性が高まると、レイアップ、バックシートやガラスの選択、そしてより薄くてもろいセルに対するストリンガーの張力の考え方が変わります。そのため、モジュール側のプロセスウィンドウもそれに合わせて動く必要があります。M10からシングル、TOPConまでのフォーマットに対応するターンキーモジュールラインのビルダーとして、私たちはこれらのセルレベルの変化を注意深く見守っています。なぜなら、それらが下流ラインが処理しなければならないペースを決定するからです。現代のモジュール生産ラインが実際にどのように動くかを見たいなら、OoitechのYouTubeチャンネルが www.youtube.com/ooitech は購読する価値があります。


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